Hochpräzise, modulare SMU Unit zum Einsatz im automatischen Test.

Viele Aufgaben im Bereich der Halbleitercharakterisierung sowie im Test elektronischer Baugruppen sind Routineaufgaben. Testreihen von neuen Bauelementen oder auch Stichproben aus der Produktion werden in grosser Zahl routinemässig auf verschiedenste elektrische Parameter vermessen. Hierzu benötigt man kein Messgerät mit einem komplexen graphischen Benutzerinterface. Eine einfache Schnittstelle für die Fernsteuerung mit einem PC ist ausreichend. Die Auswertung und Visualisierung der Ergebnisse wird ebenfalls auf dem PC vorgenommen. Mit dem Keysight E5270B und seinem „kleinen Bruder“, dem E5260A, stehen zwei leistungsfähige, modulare SMU Units für den Zweck der Integration in automatische Testsysteme zur Verfügung. Die bsw AG berät Sie gerne bei Fragen der Integration und stellt auf Wunsch kundenspezifische Gesamtlösungen inklusive der dazugehörigen Software zusammen.

Schaltmatrizen vereinfachen Messungen an komplexen Halbleiterteststrukturen.

Bei der Entwicklung und wissenschaftlichen Forschung an Halbleitern werden oft komplexe Teststrukturen mit vielen Anschlüssen verwendet. Um diese Teststrukturen mit den meist knappen Messgeräteresourcen flexibel zu verbinden, verwendet man spezielle Schaltmatrizen. Von der Verwendung normaler General Purpose Scanner oder Multiplexer ist hierfür abzuraten, da diese nicht ausreichend geschirmt sind und zusätzlich durch ihre internen Leckströme die geringeren Werte, z.B. im Sperrzustand eines Halbleiters, maskieren können. Spezielle „geguardete“ Messpfade in den Keysight Halbleitertestmatrizen sorgen dafür, dass auch sehr kleine Signale nicht verlorengehen. Einsetzbar sind solche Matrizen sowohl als Systemkomponenten in einem automatischen Testsystem als auch zusammen mit einem Keysight B1500A Parameteranalyzer. Die bsw AG berät Sie gerne rund um den Einsatz einer Schaltmatrix für Ihre Messaufgabe und findet die für Sie passende Lösung.